期刊文章详细信息
PECVD SiO_2-SiN_X叠层钝化膜的研究 ( EI收录)
THE STUDY OF SiO_2-SiN_X STACK-LAYER PASSIVATION FILMS DEPOSITED BY PECVD
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]江南大学理学院,无锡214122 [2]无锡尚德太阳能电力有限公司,无锡214028 [3]江苏省(尚德)光伏技术研究院,无锡214028
年 份:2010
卷 号:31
期 号:12
起止页码:1549-1552
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20111413890593)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:首先使用正交设计法对SiN_X和SiO_2膜的PECVD(等离子体增强化学气相沉积)特性进行了研究,分别得到了两种膜的最佳沉积条件。然后使用PECVD在P型多晶硅片发射极上沉积了SiO_2-SiN_X叠层钝化膜,并与SiN_X单层钝化膜进行比较。通过测试硅片在退火前后少子寿命的变化,考察了两种钝化膜对太阳电池发射极的钝化效果,结果表明SiO_2-SiN_X叠层膜具有更好的钝化效果。利用反射率测试仪测试了两种膜的反射率,其反射率曲线基本相同。最后,测量了采用该叠层膜制作的太阳电池的量子效率和电性能,其短路电流和开路电压均比采用SiN_X单层膜的电池要好,转换效率提高了0.25%。
关 键 词:多晶硅 太阳电池 PECVD 氮化硅 二氧化硅 减反射 钝化
分 类 号:TM914.4]
参考文献:
正在载入数据...
二级参考文献:
正在载入数据...
耦合文献:
正在载入数据...
引证文献:
正在载入数据...
二级引证文献:
正在载入数据...
同被引文献:
正在载入数据...