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期刊文章详细信息

SF_6及空气中绝缘子表面电荷的消散过程分析  ( EI收录)  

Analysis of Surface Charge Decay Process on Insulators in SF_6 and Air

  

文献类型:期刊文章

作  者:王蓓[1,2] 张贵新[2,3] 王强[2] 李金忠[3,4] 汤浩[4]

机构地区:[1]国核电力规划设计研究院,北京100032 [2]清华大学电机工程与应用电子技术系,北京100084 [3]电力系统及发电设备安全控制和仿真国家重点实验室,北京100084 [4]中国电力科学研究院,北京100192

出  处:《高电压技术》

基  金:国家重点实验室科研项目(SKLD09KZ02);国家电网公司科技项目(G71-07-004)~~

年  份:2011

卷  号:37

期  号:1

起止页码:99-103

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20111313874781)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:为了研究绝缘子表面电荷消散的规律,建立了一套表面电荷测量装置,可以测量不同气体中、不同气压下盆式绝缘子的表面电荷分布。采用的测量方法为电容探头法。针对盆式绝缘子的两种典型应用环境,即0.1MPa的空气环境及GIS/GIL中0.5MPa的SF6气体环境,实验测量了0.1MPa的空气中和0.5MPa的SF6中绝缘子表面电荷的消散过程。实验测得绝缘子表面电荷的消散过程近似呈指数衰减过程,时间常数是104 s数量级。结合实验结果,对绝缘子表面电荷消散的3种途径进行了分析,认为表面电荷主要通过绝缘子内部消散,且消散速率与绝缘子的体积电阻率和表面电阻率有关。

关 键 词:表面电荷 电荷消散  SF6 电荷消散途径  体积电阻率 表面电阻率

分 类 号:TM216[材料类]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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