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期刊文章详细信息

复杂电子系统强电磁脉冲效应研究    

Study on Electromagnetic Pulse Effect of Complex Electronic Systems

  

文献类型:期刊文章

作  者:柴焱杰[1] 孟丁[2] 李建军[3] 李钊[4]

机构地区:[1]第二炮兵工程学院,陕西西安710025 [2]第二炮兵驻699厂军事代表室,北京100036 [3]第二炮兵士官学校,山东青州262500 [4]第二炮兵驻石家庄地区军事代表室,河北石家庄050081

出  处:《无线电工程》

年  份:2011

卷  号:41

期  号:1

起止页码:38-40

语  种:中文

收录情况:JST、普通刊

摘  要:随着大规模集成电路的发展,电子设备的结构越来越微型化、复杂化,复杂电子系统抗电磁脉冲容限不断降低,在强电磁脉冲的干扰下极易造成系统的性能降级、损伤甚至爆炸。针对强电磁脉冲的破坏作用,以高空核爆电磁脉冲(HEMP)为例,分析强电磁脉冲的特性和研究强电磁脉冲效应的数值计算方法,并基于时域有限差分法(FDTD)仿真分析了双层金属腔体在HEMP平面波作用下的孔缝耦合过程,得到了有利于指导腔体电磁防护设计的结论。

关 键 词:复杂电子系统  强电磁脉冲  效应  

分 类 号:TJ91]

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引证文献:

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同被引文献:

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