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期刊文章详细信息

p-i-n结构GaN光电探测器性能的研究  ( EI收录)  

Investigation on Properties of p-i-n Structured GaN Photodetectors

  

文献类型:期刊文章

作  者:周脉鱼[1] 周蕾[2] 郑南[1] 韩宇[1]

机构地区:[1]空军航空大学特种专业系,吉林长春130000 [2]吉林市计量测试技术研究院,吉林吉林132013

出  处:《中国激光》

年  份:2011

卷  号:38

期  号:1

起止页码:248-252

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20111213784065)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:近年来,可见盲与太阳盲光电探测器在火灾监控、太空通信和导弹尾焰探测等方面的应用引起了越来越多的关注。由于氮化镓(GaN)是直接宽带隙半导体材料,所以成为了在可见区与紫外区的光电器件的首选材料,而p-i-n结构的器件因其响应度高、暗电流低、便于集成等优点倍受人们的青睐。采用金属有机气相外延(MOCVD)法制备了p-i-n结构的GaN紫外光电探测器。在此基础上,采用N2气氛下热退火处理的方法,提高了p型GaN层的载流子浓度,从而降低了器件的暗电流。器件在1 V偏压下,暗电流仅为65 pA。器件在1 V偏压下的最大响应度值出现在361 nm处,大小为0.92 A/W。

关 键 词:光学器件 光电探测器 氮化镓 响应度 p-i—n结构  暗电流

分 类 号:O472]

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同被引文献:

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