文献类型：期刊文章

作　　者：齐波[1] 李成榕[1] 郝震[1] 耿弼博[1] 徐党国[2] 刘少宇[2] 邓春[2]

机构地区：[1]高电压与电磁兼容北京市重点实验室(华北电力大学),北京市昌平区102206 [2]华北电力科学研究院有限责任公司,北京市西城区100045

出　　处：《中国电机工程学报》

基　　金：国家重点基础研究发展计划项目(973项目)(2009CB-724508)~~

年　　份：2011

卷　　号：31

期　　号：1

起止页码：101-108

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：为研究气体绝缘全封闭式组合电器(gas insulated switchgear,GIS)设备中绝缘子表面固定金属颗粒沿面局部放电发展的现象及其特征,搭建了一套220 kV GIS设备沿面放电缺陷发展实验平台,采用逐步升压法对绝缘子表面固定金属颗粒的沿面局部放电进行长期试验,观察到了放电起始、发展直至沿面闪络的现象。利用测量到的局部放电随时间变化的趋势图、散点图、二维柱状图、灰度图,描述了沿面局部放电发展的现象并获得了相应的图谱特征。试验结果表明:GIS设备绝缘子表面固定金属颗粒沿面局部放电发展现象呈现出电晕放电、电晕放电和沿面流注放电共存、沿面流注放电3个主要阶段。

关 键 词：气体绝缘组合电器 局部放电 固定金属颗粒  绝缘子 沿面放电

分 类 号：TM85]