文献类型：期刊文章

作　　者：杜滨阳[1] 范潇[1] 曹峥[1] 郭小磊[1]

机构地区：[1]高分子合成与功能构造教育部重点实验室,浙江大学高分子科学与工程学系,杭州310027

出　　处：《分析化学》

基　　金：国家自然科学基金(Nos.20604022;20874087);863科技计划(No.2009AA04Z125)资助项目

年　　份：2010

卷　　号：38

期　　号：5

起止页码：752-759

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EBSCO、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCI(收录号：WOS:000278208600030)、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000278208600030)、SCIE、SCOPUS、UPD、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：石英晶体微天平仪(QCM)具有高度的灵敏性,能够对石英晶片表面微痕量物质的变化产生响应,在分析科学研究中广泛应用。本文阐述了QCM的基本工作原理和应用基础方程,并在此基础上综述了近年来QCM在聚合物薄膜研究中的应用及研究进展,包括QCM对聚合物薄膜的厚度和力学性能的测量、QCM研究聚合物分子链在石英晶片表面的吸附过程和链构象变化、表面引发生长聚合物刷的动力学过程、基于功能聚合物薄膜和QCM的生物与化学传感器等,同时对QCM在聚合物薄膜研究领域的进一步深入应用进行了展望。

关 键 词：聚合物薄膜  石英晶体微天平 评述  

分 类 号：O484.1]