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期刊文章详细信息

降氡活性炭微结构的X射线衍射研究    

Structural Studies of Some Activated Carbons with Different Radon Adsorption Ability by X-ray Diffraction Techniques

  

文献类型:期刊文章

作  者:王庆波[1] 朱文凯[2] 曲静原[1] 程金星[2] 周百昌[2]

机构地区:[1]清华大学核能与新能源技术研究院,北京100084 [2]第二炮兵装备研究院第六研究所,北京100085

出  处:《核电子学与探测技术》

年  份:2010

卷  号:30

期  号:10

起止页码:1279-1282

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、SCOPUS、核心刊

摘  要:测定了四种活性炭对氡的动态吸附系数,其值有较大差距,对这四种活性炭进行了X射线衍射分析。对测得的X射线衍射强度谱,经过空气散射、自吸收和偏振校正后,利用Scherrer和Hirsch方法计算其微晶结构参数。结果表明,不同降氡性能的活性炭其微晶参数有较大差距,实验表明微晶尺度Lc为1.7 nm,La为1.9 nm,层叠数量为4的活性炭对氡有较强的吸附性能。

关 键 词:活性炭 微晶 XRD

分 类 号:TL75]

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同被引文献:

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