期刊文章详细信息
数字逻辑电路实验故障“三步分析法”
Three-step analyzing method for the digital logic circuit experiment failure
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]长治医学院生物医学工程系,山西长治046000 [2]北京邮电大学世纪学院通信与信息工程系,北京102613
年 份：2010
卷 号：13
期 号：5
起止页码：105-106
语 种：中文
收录情况：JST、普通刊
摘 要：数字逻辑电路实验故障时有发生,实验者由于查找排除方法的使用不当,经常会遇上误工费时却又不能很好解决故障的现象。本文介绍一种查找数字逻辑电路实验故障的方法—"三步分析法",使实验者不需要了解故障类型也能快速查出并及时排除故障,该方法不仅能提高实验效率,而且有助于实验者在自行排查和掌握各种故障的过程中养成良好的实验习惯,提高实验者分析问题和解决问题能力。
关 键 词：数字逻辑电路实验 实验故障 三步分析法
分 类 号：TN710.7]
参考文献：
正在载入数据...
二级参考文献：
正在载入数据...
耦合文献：
正在载入数据...
引证文献：
正在载入数据...
二级引证文献：
正在载入数据...
同被引文献：
正在载入数据...
