文献类型：期刊文章

作　　者：张秀荣[1] 刘小芳[2] 康张李[2]

机构地区：[1]江苏科技大学高等教育研究所,镇江212003 [2]江苏科技大学数理学院,镇江212003

出　　处：《原子与分子物理学报》

基　　金：江苏省高校基金(2005QT010J)

年　　份：2010

卷　　号：27

期　　号：5

起止页码：869-877

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RSC、核心刊

摘　　要：利用密度泛函理论(DFT)在B3LYP/Lanl2dz水平上对W_nSi_2^(0,±)(n=1～5)团簇的各种可能构型进行了几何结构优化,预测了各团簇的基态结构.并对基态构型的平均结合能、能隙、红外光谱及拉曼光谱进行了系统的理论分析.结果表明:W_nSi_2^(0,±)(n=2～5)团簇的基态结构及亚稳态结构中的Si-Si原子不成键,W_5S_2^(0,±)团簇的基态构型与W_7团簇的基态构型相似,W_3Si_2^+团簇的基态构型与W_5^(0,±)团簇的基态构型相似;W_5Si_2^-团簇是比较理想的复合材料;W_nSi_2^(0,±)(n=1～5)团簇的所有IR吸收峰都属于红外光谱中的指纹区的特征吸收区域;除W_4Si_2^-团簇外,其它团簇都具有非刚性特性.

关 键 词：WnSi2^0,±团簇  结构与光谱  密度泛函理论

分 类 号：O561.1]