文献类型：期刊文章

作　　者：任明[1] 彭华东[1] 陈晓清[1] 董明[1,2]

机构地区：[1]西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安710049 [2]西北电网有限公司博士后工作站,西安710075

出　　处：《高电压技术》

基　　金：国家自然科学基金(50907051)~~

年　　份：2010

卷　　号：36

期　　号：10

起止页码：2460-2466

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20104913461173)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：针对暂态对地电压(TEV)技术在实际开关柜局部放电检测中判断依据单一、检测结果可靠性不高等问题,对如何更好应用TEV技术展开研究。在分析TEV技术原理的基础上,综合应用TEV技术对高压开关柜典型缺陷的局部放电进行了检测与分析,探究了不同缺陷模型下的时域相位、脉冲数和测量阈值之间的关系并统计了不同缺陷的特征。结果表明,尖刺放电均发生在0°～90°及200°～340°,负半周中较高幅值的放电明显较少;内部放电发生在0°～90°及270°～315°,正负半周的放电随阈值的升高呈现相似的减少趋势;悬浮放电发生在0°～135°及180°～315°,与其正半周相比,负半周的放电随阈值升高而下降的更加剧烈,这些现象均与使用传统的脉冲电流法所得到的结论相一致,说明了使用TEV法对开关柜进行局部放电类型识别的可能性,为进一步的研究做准备。

关 键 词：高压开关柜 局部放电 缺陷识别  暂态对地电压(TEV)  脉冲电流法 局放检测  脉冲电流法

分 类 号：TM591]