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中间段光折变晶体材料参数的测量原理 ( EI收录)
Measuring principle of materials parameters of photorefractive crystal in intermediate regime
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]山西运城高等专科学校物理系 [2]西安电子科技大学技术物理系
基 金：国防科技预研基金
年 份：1999
卷 号：23
期 号：3
起止页码：165-167
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：2000215121681)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：提出了中间段光折变晶体材料参数的测量原理。利用公开报道的关于Ｃｅ∶ＫＮＳＢＮ双光束耦合的实验数据计算了该晶体的材料参数。实验与理论结果相吻合。
关 键 词：光折变效应 材料参数 双光束耦合 晶体
分 类 号：TN204]
参考文献：
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同被引文献：
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