文献类型：期刊文章

作　　者：刘恒彪[1] 王昌灵[1]

机构地区：[1]同济大学理学部,上海200092

出　　处：《光学学报》

基　　金：教育部留学回国人员科研启动基金(教外司留[2005]383号)资助课题

年　　份：2010

卷　　号：30

期　　号：9

起止页码：2578-2584

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20104313323578)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：粗糙表面产生的多波长远场散斑图案的散斑延长现象可以用来进行表面粗糙度测量。以抛喷丸表面为研究对象,具体介绍了多波长散斑自相关表面粗糙度测量方法。根据多波长散斑图案的各向同性径向辐射的特征,提出了适用的数字图像处理方法。探讨了局部自相关函数特征长度的选取、数字图像处理过程中的局部窗口尺寸和散斑图像的饱和曝光比等因素对散斑延长效应的影响。通过拍摄和处理每一样品表面多个位置的多波长远场散斑图像,计算了Ra分别为0.4,0.8,1.6和3.2μm的表面样块的光学粗糙度指标值。结果表明,该光学粗糙度指标能很好反映被测表面的粗糙程度。

关 键 词：光学测量 表面粗糙度测量 多波长散斑自相关  散斑延长效应  

分 类 号：TH741]