期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]淄博学院材料系
年 份:1999
卷 号:9
期 号:2
起止页码:370-376
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:用电位阶跃法,得出产生光滑铜沉积时硫脲(TU)的最佳浓度范围为10mg/L。由电解制样,并对样品进行X射线衍射、SEM测试,结果表明,硫脲的存在使沉积表面颗粒细化,但其浓度大于20mg/L时会造成“突出”生长,从而显著影响沉积织构及沉积生长类型。X射线光电子能谱(XPS)分析表明,铜沉积中的“硫”主要来自硫脲。
关 键 词:硫脲 电沉积 铜 电解精炼
分 类 号:TF811.044]
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