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期刊文章详细信息

硫脲在铜阴极电沉积中的作用  ( EI收录)  

INFLUENCE OF THIOUREA ON CATHODIC ELECTRODEPOSITION OF COPPER

  

文献类型:期刊文章

作  者:董云会[1] 许珂敬[1] 刘曙光[1] 王洪燕[1]

机构地区:[1]淄博学院材料系

出  处:《中国有色金属学报》

年  份:1999

卷  号:9

期  号:2

起止页码:370-376

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:用电位阶跃法,得出产生光滑铜沉积时硫脲(TU)的最佳浓度范围为10mg/L。由电解制样,并对样品进行X射线衍射、SEM测试,结果表明,硫脲的存在使沉积表面颗粒细化,但其浓度大于20mg/L时会造成“突出”生长,从而显著影响沉积织构及沉积生长类型。X射线光电子能谱(XPS)分析表明,铜沉积中的“硫”主要来自硫脲。

关 键 词:硫脲 电沉积 电解精炼

分 类 号:TF811.044]

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同被引文献:

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