文献类型：期刊文章

作　　者：邢彦敏[1] 吕坚[1] 周云[1] 蒋亚东[1] 唐亮[2] 叶川[1] 张鹏[1]

机构地区：[1]电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,四川成都610054 [2]北京中科泛华测控技术有限公司成都办事处,四川成都610061

出　　处：《红外技术》

基　　金：国家自然科学基金重点资助项目;编号:60736005

年　　份：2010

卷　　号：32

期　　号：9

起止页码：541-545

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：论述了非制冷红外焦平面阵列数据采集系统的重要性,并简要分析了现阶段采集系统的缺点,在此基础上使用NI高速数字I/O卡,将其与信号处理电路、虚拟仪器结合起来,运用图形化编程软件NI Labview2009编制上位机程序,并通过外部接口调用CLN节点以及MATLAB script节点,完成对芯片噪声性能的测试以及实时校正成像。实验表明:系统具有良好的稳定性,使用方便,人机交互界面友好,为非制冷红外焦平面阵列的测试以及实时成像系统的开发提供了一个新的思路。

关 键 词：LABVIEW 非制冷红外焦平面 数据采集 噪声测试 实时校正成像  

分 类 号：TN216]