期刊文章详细信息
数字电路多故障测试生成的神经网络方法研究 ( EI收录)
A Multiple Faults Test Generation Method for Digital Circuits with Artificial Neural Network
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中山大学无线电电子学系,广州510275
年 份：1999
卷 号：20
期 号：3
起止页码：232-234
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：本文深入研究基于Ｈｏｐｆｉｅｌｄ神经网络的数字电路多故障测试生成方法，该方法利用电路基本逻辑门和Ｈｏｐｆｉｅｌｄ网络的特性，建立多故障测试生成的神经网络模型，通过求解网络能量函数的最小值点获得给定多故障的测试矢量。文中提出了加速测试生成的技术策略，为多故障的测试提供了一种可能的新途径。
关 键 词：数字电路 多故障 测试生成 神经网络
分 类 号：TN790.7]
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