期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]北京航空航天大学小样本技术研究中心,北京100191
基 金:国家自然科学基金(10472006);北京市教育委员会共建项目(XK100060418)
年 份:2010
卷 号:25
期 号:8
起止页码:1855-1859
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20103613222365)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:针对高可靠性产品寿命试验中经常出现只有极少失效数据的情况,提出一种可靠性评估和寿命预测方法.在Weibull分布形状参数下限已知的情况下,给出使用寿命和可靠度的单侧置信下限,该方法具有能将所有失效数据和未失效寿命数据进行累加的优点.文中还建立不同状态之间不完全数据的损伤等效折算公式,实现不同状态之间不完全数据的整体推断,增大了信息量,提高了预测精度.本文方法易于计算,便于工程应用.
关 键 词:寿命试验 WEIBULL分布 极少失效数据 整体推断 可靠性评估 寿命预测
分 类 号:O211] TB301[数学类]
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