期刊文章详细信息
毫米波椭偏法测量介质的复介电常数
Ellipsometry for Measurement of Complex Permittivity of Materials in Millimeter-Wave Band
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]上海大学通信与信息工程学院,上海200072 [2]上海海事大学信息工程学院,上海200135 [3]上海大学电子物理研究所,上海201800
基 金:国家自然科学基金资助项目(60571054);上海大学研究生创新基金资助项目(SHUCX080153);上海市教委支出预算资助项目(2008101)
年 份:2010
卷 号:16
期 号:4
起止页码:371-375
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、MR、RCCSE、ZGKJHX、ZMATH、核心刊
摘 要:将椭圆偏振测量法(椭偏法)的电磁频谱从原来可见光、红外波段拓展到毫米波段,对毫米波椭偏法测量原理进行理论分析,使用已构建的实验装置进行测量.通过对测量结果的分析,选择合适的入射角,经过大量测试,计算出被测介质材料的复介电常数.
关 键 词:复介电常数 椭圆偏振测量法(椭偏法) 反射系数 毫米波
分 类 号:TN015]
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