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期刊文章详细信息

毫米波椭偏法测量介质的复介电常数    

Ellipsometry for Measurement of Complex Permittivity of Materials in Millimeter-Wave Band

  

文献类型:期刊文章

作  者:李素萍[1] 王子华[1] 张友俊[2] 张胜[1] 李铭祥[3] 李英[1]

机构地区:[1]上海大学通信与信息工程学院,上海200072 [2]上海海事大学信息工程学院,上海200135 [3]上海大学电子物理研究所,上海201800

出  处:《上海大学学报(自然科学版)》

基  金:国家自然科学基金资助项目(60571054);上海大学研究生创新基金资助项目(SHUCX080153);上海市教委支出预算资助项目(2008101)

年  份:2010

卷  号:16

期  号:4

起止页码:371-375

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、MR、RCCSE、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘  要:将椭圆偏振测量法(椭偏法)的电磁频谱从原来可见光、红外波段拓展到毫米波段,对毫米波椭偏法测量原理进行理论分析,使用已构建的实验装置进行测量.通过对测量结果的分析,选择合适的入射角,经过大量测试,计算出被测介质材料的复介电常数.

关 键 词:复介电常数 椭圆偏振测量法(椭偏法)  反射系数 毫米波

分 类 号:TN015]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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