文献类型：期刊文章

作　　者：孙静[1] 高濂[1] 郭景坤[1]

机构地区：[1]中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷与超微结构国家重点实验室,上海200050

出　　处：《无机材料学报》

年　　份：1999

卷　　号：14

期　　号：3

起止页码：465-469

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、DOAJ、EI、IC、JST、RCCSE、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000081044400024)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：本文研究了三种不同来源的纳米氧化锆粉体在尺寸表征中的影响因素．其中，加入的分散剂用量不同，测得的粉体颗粒尺寸有很大差别，不足或过量的分散剂影响粉体的颗粒尺寸分布．这种影响是通过改变粉体表面的电荷分布来实现的．超声时间长短是影响粉体尺寸表征的另一个重要因素．

关 键 词：氧化锆粉体 颗粒尺寸 分散剂 纳米粉体 陶瓷

分 类 号：TF123.72] TQ174.758]