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期刊文章详细信息

TD-SCDMA与TD-LTE系统共存研究    

Coexistence Study of TD-SCDMA and TD-LTE Systems

  

文献类型:期刊文章

作  者:田英男[1] 张欣[1] 王静[1] 郑瑞明[1] 杨大成[2]

机构地区:[1]北京邮电大学无线理论与技术研究实验室 [2]北京邮电大学信息与通信工程学院

出  处:《现代电信科技》

年  份:2010

期  号:7

起止页码:28-32

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:文章主要研究了TD-SCDMA系统和TD-LTE系统在同一地理区域邻频共存情况下由于系统间干扰造成的系统性能损失,给出并分析了在不同站间距、不同基站偏移、不同功率控制参数和不同带宽参数下,四个不同干扰场景的仿真结果。最后给出了一些减小干扰的措施与建议。

关 键 词:共存  干扰  TD-SCDMA TD-LTE

分 类 号:TN929.533]

参考文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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