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期刊文章详细信息

SOI—二十一世纪的微电子技术    

SOI—THE MICROELECTRONICS TECHNOLOGY IN THE 21st CENTURY

  

文献类型:期刊文章

作  者:林成鲁[1] 张苗[1]

机构地区:[1]中国科学院上海冶金研究所信息功能材料国家重点实验室,上海200050

出  处:《功能材料与器件学报》

年  份:1999

卷  号:5

期  号:1

起止页码:1-7

语  种:中文

收录情况:AJ、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘  要:与体硅材料和器件比较,SOI具有许多独特的优越性,例如高开关速度、高密度、抗辐照、无闩锁效应等,因而被称为二十一世纪的微电子技术而引起人们越来越多的关注.SOI技术正走向商业应用阶段,特别是应用于高性能、低功耗CMOS电路,抗辐照器件和高温电子器件等。本文综述了SOI材料和器件的最新进展.

关 键 词:离子注入 注氧隔离 智能剥离  SOI 微电子技术

分 类 号:TN4]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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