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期刊文章详细信息

高压脉冲造成储能电容器老化的直流局部放电测试技术  ( EI收录)  

Partial Discharge Under DC Condition With Pulse Discharge Degradation of High Voltage Storage Capacitors

  

文献类型:期刊文章

作  者:吴广宁[1] 李晓华[1,2] 冉汉政[1,3] 姚永和[3] 张血琴[1] 于成龙[3] 边姗姗[1] 彭倩[1]

机构地区:[1]西南交通大学电气工程学院,成都610031 [2]四川电力超高压建设管理公司,成都610021 [3]中国工程物理研究院电子工程研究所,绵阳621900

出  处:《电工技术学报》

基  金:国家自然科学基金资助项目(10476022)

年  份:2010

卷  号:25

期  号:7

起止页码:172-178

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20103413174472)、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:高压储能电容器是脉冲功率系统的关键器件之一,应具有高的可靠性,但个别电容器在工作期间会发生过早击穿,给系统带来极大的隐患。如能准确评估其绝缘状态,对整个系统的工作稳定性有很大的提高。本文提出直流局部放电是检测试样绝缘老化的适宜方法,并研究了老化后的电容器绝缘在直流局部放电试验中的测试电压、测试方向和测试时间;按照上述标准划分了过渡区、平稳区,按照一定测量方向和顺序,得到了有效的直流局部放电数据;最后对击穿后的试样解剖并分析,认为直流局部放电参量变化可有效反映其绝缘状态。

关 键 词:储能电容器 绝缘  老化  直流 局部放电

分 类 号:TM835.1]

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