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智能理论在BIT设计与故障诊断中的应用 ( EI收录)
The Application of Intelligent Theory to the Built in Test Design and Fault Diagnosis
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]国防科技大学机电工程与仪器系
年 份：1999
卷 号：21
期 号：1
起止页码：97-101
语 种：中文
收录情况：AJ、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊
摘 要：近２０年来机内测试（ＢＩＴ）技术从理论到应用取得了显著进展，已成为提高产品测试性和诊断能力的有效途径。本文概述了ＢＩＴ技术的特点，分析了国内外ＢＩＴ的发展趋势，对ＢＩＴ智能化从系统设计、信息处理到综合决策各阶段进行概括，对专家系统、神经网络、模糊理论、信息融合等智能理论在ＢＩＴ中的应用进行了综合分析。
关 键 词：机内测试 人工智能 BIT 故障诊断 电子设备
分 类 号：TN606] TP18]
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