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晶体硅微粉气相氮化及氮氧化条件
Conditions for Gaseous Nitridation and Oxynitridation of Crystalline Silicon Powders
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]南昌大学材料学院 [2]南昌大学太阳能光伏学院,江西南昌330031
年 份:2010
卷 号:28
期 号:3
起止页码:416-420
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、ZGKJHX、核心刊
摘 要:氮化硅及氮氧化硅粉体在多晶硅光伏产业中有重要应用。本文研究其气相反应形成条件。研究结果显示,晶体硅微粉的气相氮化及氮氧化特性与体材大不相同,它使得硅的氮化和氮氧化得以在体系中氧分压远高于热力学临界平衡氧分压、处于氧化硅稳定区的条件下实现。其原因在于反应过程中粉体表层氧化反应后耗氧,使粉体内部实际氧分压大幅度降低。实验结果表明,晶体硅微粉的气相氮化约需1400℃方能有效进行,在气相反应条件下,α-Si3N4与β-Si3N4均能形成,随保温时间延长,α-Si3N4相对量提高;晶体硅微粉在氮-氧混合气体中的氮氧化行为对气氛的氧分压十分敏感,氧分压较高时形成SiO2并阻止反应进一步进行,较低时形成Si3N4,氧分压为0.1atm时较适合Si2N2O形成。
关 键 词:硅 氮化硅 氮氧化硅 粉体 热力学平衡
分 类 号:TQ037.1] TQ174.758
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