文献类型：期刊文章

作　　者：谢黎明[1] 陈凌冰[1] 薛绍林[1] 赵有源[1] 李富铭[1] 张守都[2] 王浩炳[2]

机构地区：[1]复旦大学物理系三束极性国家重点实验室 [2]中国科学院上海光学精密机械研究所

出　　处：《光学学报》

基　　金：国家自然科学基金

年　　份：1999

卷　　号：19

期　　号：1

起止页码：127-131

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：用５１４．５ｎｍ、４８８．０ｎｍ的Ａｒ＋激光和４４１．６ｎｍ的Ｈｅ－Ｃｄ激光激发Ｅｕ３＋Ｙ２ＳｉＯ５晶体，获得了一系列窄带荧光谱线，其中双重谱线结构源于Ｅｕ３＋离子发光中心在该材料中占据两种不等价的非对称光学格位。测得了Ｅｕ３＋Ｙ２ＳｉＯ５的Ｘ射线多晶衍射谱的面间距数据，计算了晶格常数和晶面角度，通过和非掺杂Ｙ２ＳｉＯ５晶体数据的比较。

关 键 词：荧光谱 多晶衍射谱  稀土离子掺杂 晶体

分 类 号：O734] TN244]