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李代数在磁偏转系统三级像差计算中的应用 ( EI收录)
Lie Algebra Application in Calculating the Third Order Aberration of the Magnetic Deflection System
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]西安交通大学电子与信息工程学院光电子与物理电子工程系,西安710049
年 份：1999
卷 号：19
期 号：1
起止页码：31-37
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI、JST、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：提出了电子光学偏转像差的李代数理论 ,将这种新型数学工具的应用领域从带电粒子束的聚焦传输系统推广到扫描偏转系统。推导出了磁偏转系统的高斯光学性质及全部三级正则像差 (包括在任意观察平面的正则位置像差和正则动量像差 ) ,所导出的结果与传统的逐次近似像差理论相同 。
关 键 词：李代数 偏转像差 磁偏转系统 粒子光学
分 类 号：O463]
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