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期刊文章详细信息

CMM关键过程域剖析:缺陷预防    

Analysis of CMM KPA:Defect Prevention

  

文献类型:期刊文章

作  者:王磊[1] 祝振宇[1]

机构地区:[1]广东工业大学华立学院计算机系,广东广州511325

出  处:《科技广场》

年  份:2010

期  号:5

起止页码:243-245

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:缺陷预防的着眼点在于以往的缺陷原因分析,历史数据的量化分析,以及规划并实施一定的措施来减少项目的缺陷。本文主要介绍了缺陷分析的主要技术,提出了缺陷预防策略对软件过程的改进。

关 键 词:缺陷预防  正交缺陷分类法  CMM

分 类 号:TP311]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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