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期刊文章详细信息

离子束刻蚀    

Ion Beam Etching

  

文献类型:期刊文章

作  者:赵丽华[1] 周名辉[1] 王书明[1] 李锦标[1] 霍彩虹[1] 周晓黎[1]

机构地区:[1]电子部第十三研究所

出  处:《半导体技术》

年  份:1999

卷  号:24

期  号:1

起止页码:39-42

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX1996、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘  要:介绍了几种常用的干法刻蚀技术的机理,重点介绍了离子束刻蚀的基本原理,给出了55种不同材料在500eV能量1mA/cm2束流密度条件下的刻蚀速率,并给出了刻蚀速率随束流能量和束流密度增加而增加的试验结果和实际图形刻蚀的扫描电镜分析结果,对有关问题进行了讨论。

关 键 词:离子束刻蚀 干法刻蚀 半导体器件

分 类 号:TN305.2]

参考文献:

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同被引文献:

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