文献类型：期刊文章

作　　者：张立为[1] 钟慧敏[2]

机构地区：[1]华东师范大学软件学院,上海200062 [2]华东师范大学信息科学技术学院通信工程系,上海200241

出　　处：《微计算机信息》

年　　份：2010

卷　　号：26

期　　号：17

起止页码：124-126

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：本文介绍了现场可编程阵列FPGA(Field Programmable Gate Array)在SPI(serial peripheral interface串行外围设备接口)Flash芯片测试系统中的应用。由于芯片本身功能指令较多,使得对芯片进行直接操作变得非常困难,而利用FPGA来对SPIFlash进行控制,就能非常方便地对其进行读写、擦除、刷新及预充电等操作,从而能快速、准确地测试出芯片的好坏,为SPIFlash制造厂商和用户提供准确的判断依据。该控制器用Verilog HDL实现,并在Modelsim中得出仿真结果。

关 键 词：SPI FLASH FPGA  VERILOG HDL Modelsim仿真  

分 类 号：TP206.1]