文献类型：期刊文章

作　　者：雷清泉[1] 石林爽[1] 田付强[2] 杨春[3] 何丽娟[4] 王毅[2]

机构地区：[1]工程电介质及其应用技术教育部重点实验室(哈尔滨理工大学),黑龙江省哈尔滨市150040 [2]北京交通大学电气工程学院,北京市海淀区100044 [3]上海交通大学电子信息与电气工程学院,上海市闵行区200240 [4]哈尔滨理工大学应用科学学院,黑龙江省哈尔滨市150080

出　　处：《中国电机工程学报》

基　　金：国家重点基础研究发展计划项目(973项目)(2009CB-724505);北京交通大学优秀博士生科技创新基金项目(151054522);国家自然科学基金项目(50537040)~~

年　　份：2010

卷　　号：30

期　　号：13

起止页码：109-114

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：为研究无机纳米掺杂对聚酰亚胺电荷输运特性的影响,测量了美国杜邦公司生产的原始聚酰亚胺薄膜(100HN型)和纳米Al2O3掺杂耐电晕聚酰亚胺薄膜(100CR型)电晕老化前后的电导电流特性。实验发现,电晕老化前100CR的欧姆区电流明显大于100HN的,而空间电荷限制电流区的电流则明显小于100HN的;电晕老化后,100HN陷阱载流子密度和电老化阈值都减小,而100CR的对应值均增大。分析实验结果后得知,纳米掺杂既可能增加导带热激发自由电子浓度,又可能增大聚合物中电荷陷阱的深度和密度,这2种因素对电导电流的影响效果是相反的,分别主导着低场强和高场强电导电流大小的变化。此外,电晕老化对100CR和100HN电导电流影响不同的机制还有待进一步的研究。

关 键 词：聚酰亚胺薄膜 纳米掺杂  电晕老化 电导电流 电介质

分 类 号：TM85] TM215[材料类]