文献类型：期刊文章

作　　者：王庆香[1,2] 李迪[1] 张舞杰[1] 叶峰[1]

机构地区：[1]华南理工大学机械与汽车工程学院,广东广州510641 [2]广州中医药大学信息技术学院,广东广州510006

出　　处：《光学精密工程》

基　　金：广东省科技攻关计划资助项目(No.2008B01040004)

年　　份：2010

卷　　号：18

期　　号：4

起止页码：981-987

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20102713051865)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为实现软性电路板(FPC)金面缺陷的准确自动检测,提出了一种以Gabor滤波器和Mean Shift聚类算法为基础的完全无监督FPC金面缺陷检测方法。首先,用Gabor滤波器组、数学形态学与Gaussian平滑处理抽取待检测图像的多维特征;然后,使用主元分析(PCA)将每个像素特征维数降为二维;最后,使用Mean Shift方法对二维特征数据进行聚类并将聚类的结果转化为二值图像。整个检测过程无需预先知道缺陷的类型和FPC金面的纹理类型,是一种完全无监督的检测方法。对带有各种缺陷的FPC金面进行检测实验,结果表明,该方法能够准确地将各类缺陷区域从背景区域中分离出来,具有自动缺陷检测系统所要求的识别能力强、稳定性高的特点。

关 键 词：缺陷检测  GABOR滤波器 Mean  Shift聚类  

分 类 号：TP274.3] TN407]