期刊文章详细信息
熔丝类电路的修调探索
Grope for Trimming Fuse of IC
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214035
年 份：2010
卷 号：10
期 号：4
起止页码：24-27
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：随着熔丝在电路设计中的应用普及,测试环节对熔丝修调的要求也越来越高,对测试人员提出了更大挑战。修调熔丝的目的是为了获得更精确的电压或者频率,按照制造材料和工艺可分为金属和多晶硅两种类型。不同的工艺结构决定了不同电路的熔丝有不同的特性,修调时需要针对具体电路具体分析,选择适宜的修调方案,并且编写简洁高效的修调程序。文章介绍了常见熔丝的特性,总结几种常用的修调熔丝方法,并分析了这些方法的各自特点,同时对修调熔丝的程序算法做了探讨。
关 键 词：熔丝 修调 集成电路测试
分 类 号：TN402]
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