文献类型：期刊文章

作　　者：季春红[1] 李建强[1] 黄文杰[1] 包蕊[2] 郭茹[1] 胡俊杰[1]

机构地区：[1]北京科技大学应用科学学院,北京100083 [2]北京英纳超导技术有限公司,北京100176

出　　处：《光谱学与光谱分析》

基　　金：国家自然科学基金项目(20876015)资助

年　　份：2010

卷　　号：30

期　　号：5

起止页码：1396-1399

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20102212974708)、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCI(收录号：WOS:000277256200052)、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000277256200052)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定低品位金矿样品中痕量金的方法,优化了仪器分析条件,对测定介质、干扰等进行了系统研究,结果标明:在小于10%(φ)王水介质中,所用酸不影响测定;矿中常见的阳离子的干扰,通过用10%盐酸(φ)进行预溶解去除,残留的基体元素对测定没有影响。试样中存在的硅对金208.2nm产生严重的光谱干扰,用硅的251.6nm线进行干扰系数法校正。采用上述条件测定了高硫尾矿中的痕量金,结果与活性炭富集-原子吸收法所得结果一致。在实验条件下,对金矿的检测限为0.10g·t-1。

关 键 词：ICP-AES 痕量金 基体效应  干扰系数校正法  

分 类 号：O657.3]