文献类型：期刊文章

作　　者：魏本征[1,2] 赵志敏[3] 华晋[1]

机构地区：[1]南京航空航天大学自动化学院,南京210016 [2]山东中医药大学理工学院,济南250355 [3]南京航空航天大学理学院,南京210016

出　　处：《仪器仪表学报》

基　　金：国家自然科学基金(10172043);国际合作项目(BZ2008060);山东省自然科学基金(ZR2009CM085);山东省高等学校科技计划项目(J09LF23)资助

年　　份：2010

卷　　号：31

期　　号：4

起止页码：838-844

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20102413003022)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为满足电荷耦合器件(CCD)图像测量系统的快速、高精度测量要求,提出了一种基于改进形态学梯度和Zernike矩算法的图像亚像素边缘检测新方法。基于CCD图像灰度和空间结构信息特点,该算法先利用改进的数学形态学梯度算子进行边缘点的粗定位,在像素级上确定边缘点的坐标和梯度方向;然后再根据构造的边缘点向量和参考阈值,用Zernike矩算法对边缘点进行亚像素的重新定位,实现图像的亚像素边缘检测。仿真图像和实际图像的边缘定位实验结果表明,与Zernike矩、LOG-Zernike矩及Sobel-Zernike矩算法相比,该方法具有更好的定位精度与抗噪性,且检测速度更快。

关 键 词：图像测量系统 边缘检测 数学形态学梯度  ZERNIKE矩

分 类 号：TP391.41]