期刊文章详细信息
AgSnO_2触头材料电弧侵蚀特征的分子动力学模拟 ( EI收录)
Molecular Dynamics Simulation for Arc Erosion Morphology of AgSnO_2 Materials
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]昆明理工大学材料科学与工程学院,昆明650093 [2]云南省新材料制备与加工重点实验室,昆明650093
基 金:973前期研究专项(2008CB617609);云南省自然科学基金(2006E0019Q);昆明理工大学分析测试基金(2009-002)
年 份:2010
卷 号:38
期 号:3
起止页码:8-12
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、DOAJ、EI(收录号:20101912918161)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:研究电接触材料电弧侵蚀作用过程中灭弧过程的微观机理,采用分子动力学和实验的方法对反应合成的AgSnO2电接触材料的熔池行为进行模拟。结果表明:根据起弧时的物相所构建的模型,能够准确地模拟熔池特征,熔池内部物质运动和存在状态是决定耐电弧侵蚀的关键因素。可通过增加反应合成AgSnO2电接触材料与基体浸润的氧化物组分,以及氧化物发生物态变化、化学分解过程来达到熄弧的目的。
关 键 词:AgSnO2电接触材料 电弧侵蚀 分子动力学 熔池
分 类 号:TB333[材料类]
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