文献类型：期刊文章

作　　者：张胜勇[1,2] 高世杰[1] 吴志勇[1] 田丽霞[3]

机构地区：[1]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春130033 [2]中国科学院研究生院,北京100039 [3]太原铁路局湖东车务段,大同037003

出　　处：《计算机工程》

年　　份：2010

卷　　号：36

期　　号：6

起止页码：239-240

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、UPD、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：针对NANDFlash在存储数据时对可靠性的要求,分析传统坏块管理方式的弊端,提出一种基于现场可编程门阵列(FPGA)的坏块处理方案,采用在FPGA内部建立屏蔽坏块函数的方法屏蔽坏块。该方法彻底屏蔽对坏块的操作,可以实现对Flash的可靠存储。实际工程应用证明其具有较高的可靠性。

关 键 词：闪存 现场可编程门阵列 坏块  

分 类 号：TP333]