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Sol-gel法制备多铁性Bi_(0.85)Eu_(0.15)FeO_3薄膜及其性能 ( EI收录)
Preparation and Multiferroic Properties of Bi_(0.85)Eu_(0.15)FeO_3 Thin Films Prepared by Sol-gel Method
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]武汉理工大学材料科学与工程学院,武汉430070 [2]重庆科技学院机械工程学院,重庆400042
基 金:国家自然科学基金青年科学基金(50902108)
年 份:2010
卷 号:24
期 号:4
起止页码:17-19
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、UPD、ZGKJHX、核心刊
摘 要:采用Sol-gel法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了Bi0.85Eu0.15FeO3薄膜。研究了退火温度对其晶相形成的影响,发现在较低温度退火(450℃)时,Bi0.85Eu0.15FeO3晶相开始形成,但存在杂相,而且结晶度较差;在490~600℃可以获得结晶较好的单相Bi0.85Eu0.15FeO3薄膜。同时对经550℃退火的薄膜的介电、铁电和铁磁性能进行了研究,结果表明,Bi0.85Eu0.15FeO3薄膜具有较好的介电及铁磁性能。当测试频率为1MHz时,薄膜的介电常数和介电损耗分别为80、0.024,饱和磁化强度约为26.2emu/cm3。
关 键 词:Sol—gel法Bi0.85Eu0.15FeO3薄膜 介电性能 铁电性能 铁磁性能
分 类 号:TB383[材料类] TQ174.758]
参考文献:
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