文献类型：期刊文章

作　　者：张峰[1] 闫镔[1] 李建新[1] 李磊[1] 包尚联[2]

机构地区：[1]信息工程大学电子科学与技术系,郑州450002 [2]北京大学医学物理和工程北京市重点实验室,北京100871

出　　处：《CT理论与应用研究（中英文）》

基　　金：河南省基础与前沿技术研究计划项目(072300450240)

年　　份：2009

卷　　号：18

期　　号：4

起止页码：34-43

语　　种：中文

收录情况：JST、PUBMED、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：在工业X-CT成像系统中,散射现象对重建图像的质量有重要的影响,一直是CT研究的热点之一。随着工业X-CT系统的最新发展,锥束CT也逐渐被广泛应用,由于成像质量要求高,散射成二维分布,及新型平板探测器的应用,对散射校正带来更大的挑战。在传统的散射校正方法基础上,近几年出现了众多新的校正方法。本文首先分析了散射干扰的形成原理,介绍了散射评估方法,同时又对目前主要的几种校正方法进行了归纳总结,并对散射校正研究的发展趋势进行了展望。

关 键 词：X射线 工业CT 散射校正  蒙特卡罗模拟 射束衰减网格  初级射线调制  

分 类 号：TP391.41]