文献类型：期刊文章

作　　者：杨涛[1] 赵星[1] 张朋[1]

机构地区：[1]首都师范大学数学科学学院检测成像实验室,北京100048

出　　处：《无损检测》

基　　金：国家自然基金重点资助项目(60532080);北京市科技新星资助项目(2005B49)

年　　份：2010

卷　　号：32

期　　号：1

起止页码：14-18

语　　种：中文

收录情况：ZGKJHX、普通刊

摘　　要：研究工业CT三维图像的内部信息是无损检测的重要途径。为了实时观察三维图像的任意断面,获取数据信息,提出一种基于GPU的体绘制任意断面剖切算法。该算法基于图形处理器(GPU)单指令多数据流(SIMD)计算方式,通过并行计算内积的方法确定体素与切面的位置关系。当体素位于切面外侧时,则将体素设置为完全透明,使其对显示图像没有贡献,实现了任意断面剖切。还可以实现多断面剖切和结合传输函数的剖切。试验证明,该算法达到交互速度,能够应用于工业无损检测过程中。

关 键 词：工业CT 无损检测 直接体绘制 任意断面剖切  图形处理器

分 类 号：TG115.28] TP391]