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期刊文章详细信息

一种路径敏感的静态缺陷检测方法  ( EI收录)  

Path Sensitive Static Defect Detecting Method

  

文献类型:期刊文章

作  者:肖庆[1] 宫云战[1] 杨朝红[1,2] 金大海[1] 王雅文[1]

机构地区:[1]北京邮电大学网络与交换技术国家重点实验室,北京100876 [2]装甲兵工程学院信息工程系,北京100072

出  处:《软件学报》

基  金:国家高技术研究发展计划(863)Nos.2007AA010302;2009AA012404~~

年  份:2010

卷  号:21

期  号:2

起止页码:209-217

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20101612868913)、IC、INSPEC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘  要:提出一种多项式复杂度的路径敏感静态缺陷检测算法.该方法采用变量的抽象取值范围来表示属性状态条件,通过属性状态条件中的变量抽象取值范围为空来判断不可达路径.在控制流图(control flow graph,简称CFG)中的汇合节点上合并相同属性状态的状态条件,从而避免完整路径上下文分析的组合爆炸问题.该算法已应用于缺陷检测系统DTS(defect testing system).实际测试结果表明,该方法能够减少误报.

关 键 词:缺陷检测  静态分析  路径敏感  数据流分析 程序分析  

分 类 号:TP311]

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同被引文献:

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