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用计算机图像技术进行苹果坏损自动检测的研究 ( EI收录)
AUTOMATIC DETECTION OF DEFECTS ON APPLE WITHTHE COMPUTER IMAGE TECHNOLGY
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]华北电力大学热工自动化教研室 [2]中国农业大学电子电力工程学院
年 份：1998
卷 号：29
期 号：4
起止页码：81-86
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1996、CAB、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：根据苹果光学反射特性建立了一套适于苹果坏损自动检测的计算机图像系统。鉴于坏损出现位置、大小等因素的不可预测性，提出了一种基于知识的坏损点单调检测方法以及坏损区域判别方法。试验表明：系统有较高的坏损检出率，且能有效地消除果梗区和花萼区对坏损区域判别的影响；检测方法具有较强的鲁棒性。
关 键 词：计算机 图像分析 检测 苹果
分 类 号：S226.5] S661.109.3[农业工程类]
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