文献类型：期刊文章

作　　者：张荣彦[1,2] 冯焱颖[2] 闫树斌[1,2] 熊继军[1] 任小红[1]

机构地区：[1]中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室微米纳米技术研究中心,太原030051 [2]清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,北京100084

出　　处：《光电工程》

基　　金：国家自然科学基金项目(50775127/E0525);国家973前期专项(2007CB316504);总装预研项目(9140C1204040808)

年　　份：2009

卷　　号：36

期　　号：12

起止页码：37-41

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、IC、JST、PROQUEST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：针对F-P干涉仪分析连续激光调制光谱的局限性,本文提出了一种基于光拍频的连续激光调制光谱的测量方法,该方法可实现调制频率低达千赫兹的连续激光调制光谱的测量。本方法以光电转换理论为基础,利用频谱分析仪测得参考光与连续调制光谱的拍频信号,然后通过相应的数学计算得到连续调制光谱的各个光频的相对电场强度,从而实现连续调制光谱的分析。本文在理论建模与分析的基础上,利用该方法对半导体激光器出射激光经电光调制器调制产生的调制光谱进行了测量,测量结果与F-P干涉仪测量结果一致,验证了该方法的可行性。

关 键 词：光拍频  连续激光调制光谱  相对电场强度  F-P干涉仪

分 类 号：TH744]