期刊文章详细信息
消光法测量微粒尺寸的测量下限的研究 ( EI收录)
A Study on Measurement Lower limit of Particle Sizer with Light Extinction
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]上海理工大学仪表学院
基 金：上海市自然科学基金
年 份：1998
卷 号：19
期 号：5
起止页码：503-507
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX1996、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：根据Ｍｉｅ光散射理论，本文详细讨论了用可见光波段的光透消光法（Ｌｉｇｈｔｅｘｔｉｎｃｔｉｏｎ）测量微粒尺寸的测粒下限。分析及计算表明，采用合适的最优化计算方法，光透消光法可用于测量亚微米级及以下的超细颗粒。文中给出了数值模拟计算结果及实测结果。
关 键 词：光透消光法 测量下限 微粒尺寸 尺寸测量
分 类 号：TH821.01[仪器类]
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