文献类型：期刊文章

作　　者：王伏虎[1] 赵喜仓[1]

机构地区：[1]江苏大学财经学院,统计系212013

出　　处：《统计与决策》

基　　金：江苏大学人文社科重点建设项目资助

年　　份：2009

卷　　号：25

期　　号：24

起止页码：158-159

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CSSCI、CSSCI2008_2009、NSSD、RCCSE、RWSKHX、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：Jonckheere-Terpstra检验在多个独立样本非参数检验中,可以检验多个独立样本的位置参数是否持续上升和下降,和常用的Kruskal-Wallis检验相比,Jonckheere-Terpstra检验的计算过程相对复杂,文章对Jonckheere-Terpstra检验统计量进行了梳理,然后结合案例介绍了Jonckheere-Terpstra检验的实际应用。

关 键 词：多个独立样本非参数检验  Jonckheere—Terpstra检验  Kruskal—Wallis检验  位置参数  

分 类 号：O212.1]