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期刊文章详细信息

基于SCR的ESD器件低触发电压设计    

Low-triggering Voltage Design of SCR-based ESD Protection Circuits

  

文献类型:期刊文章

作  者:李冰[1,2] 杨袁渊[3] 董乾[4]

机构地区:[1]东南大学集成电路学院,南京210096 [2]东南大学无锡分校,江苏无锡214135 [3]新南威尔士大学电子工程和电信学院 [4]无锡奥利杰科技有限公司,江苏无锡214135

出  处:《固体电子学研究与进展》

基  金:国家科技部创新基金项目(07C26213200393)

年  份:2009

卷  号:29

期  号:4

起止页码:561-565

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:设计和验证了三种低电压触发的SCR结构ESD保护电路,采用上华0.5μmCMOS工艺流片,测试表明,所有的器件都具有低电压触发特性,在器件宽度只有50μm的条件下,能达到400V正向机器模式的ESD性能。实验中发现了意外失效情况,文章给出了分析。

关 键 词:静电释放 可控硅 低触发电压  

分 类 号:TN43]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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