文献类型：期刊文章

作　　者：李泽涛[1] 张柳明[2]

机构地区：[1]长江师范学院物理系,重庆涪陵408100 [2]涪陵第十五中学,重庆涪陵408000

出　　处：《西南师范大学学报（自然科学版）》

基　　金：重庆市教委科技项目资助(kj061306)

年　　份：2009

卷　　号：34

期　　号：6

起止页码：22-27

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、JST、MR、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：利用级数展开法,推出了磁光薄膜各晶面对p极化光反射的二次谐波强度和磁光Kerr角;分析了入射角与各晶面反射的二次谐波强度及磁光Kerr角的相互关系,结果发现:①各晶面反射的二次谐波强度与入射光的强度之比正比于入射光的强度,且是入射角的函数,同时其比值在入射角的取值范围内存在极值;②各晶面反射的二次谐波的Kerr角与入射光的强度无关,只与薄膜的性质和入射角有关;③从保护薄膜的角度来看,读写激光不宜采用正入射方式.

关 键 词：磁光薄膜 表面反射  二次谐波 KERR效应 理论研究  

分 类 号：TN201]