文献类型：期刊文章

作　　者：吕俊涛[1,2] 魏晓云[3] 谷德山[3] 程道文[3] 王新[3] 贺平[3] 刘林茂[3]

机构地区：[1]浙江大学工业控制技术国家重点实验室,浙江杭州310027 [2]大庆油田有限公司测试分公司,黑龙江大庆163453 [3]东北师范大学辐射技术研究所,吉林长春130024

出　　处：《东北师大学报（自然科学版）》

基　　金：吉林省科技发展计划项目(20050323)

年　　份：2009

卷　　号：41

期　　号：4

起止页码：79-81

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、BIOSISPREVIEWS、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、MR、RCCSE、WOS、ZGKJHX、ZMATH、ZR、核心刊

摘　　要：用中子发生器做中子源进行元素分析时,在辐照所测元素的同时,中子发生器组成材料、中子防护材料及探测γ射线装置都产生相应的γ射线,这些γ射线会对实际测量元素产生干扰.通过在中子发生器和探测器之间加铅可以屏蔽来自中子发生器一侧的γ射线.实验表明:当铅层厚度为80 mm时屏蔽效果最佳;用中子进行含C,H和O等元素的分析时,加铅层提高了测量精度.

关 键 词：中子 元素分析  Γ射线 屏蔽

分 类 号：O571.56]