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期刊文章详细信息

硅MEMS器件键合强度在线检测方法    

On-Line Examination Method of Bonding Strength Measurement in Silicon MEMS Devices

  

文献类型:期刊文章

作  者:李仁锋[1] 马凯[2] 郑英彬[1] 袁明权[1] 施志贵[1] 吴嘉丽[1]

机构地区:[1]中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳621900 [2]西安理工大学理学院工程力学系,西安710048

出  处:《微纳电子技术》

基  金:国家部委基础科研资助项目

年  份:2009

卷  号:46

期  号:12

起止页码:758-763

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、INSPEC、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:键合强度是MEMS器件研制中一个重要的工艺质量参数,键合强度检测对器件的可靠性具有十分重要的作用。为了获得MEMS器件制造工艺中的键合强度,提出了一种键合强度在线检测方法,并基于MEMS叉指式器件工艺介绍了一种新型键合强度检测结构;借助于材料力学的相关知识,推导出了键合强度计算公式,经过工艺实验,获得了键合强度检测数据;对获得的不同键合面积的键合强度加以对比,指出这些数据的较小差异,是由刻度盘最小刻度误差和尺度效应造成的。结合叉指式器件的工作环境,认为这种方法获得的键合强度更接近实际的工作情况。

关 键 词:微电子机械系统 阳极键合 键合强度 微结构  在线检测

分 类 号:TH703[仪器类] TN407]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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