期刊文章详细信息
提高边界扫描电路延迟故障被测度的有效技术
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]太原理工大学计算机科学与工程系
年 份：1998
卷 号：17
期 号：5
起止页码：33-34
语 种：中文
收录情况：JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要：本文提出了一种用于边界扫描易测试设计电路中锁存器排序算法,并借助于ATPG自动测试矢量生成工具生成通路延迟故障测试集。其算法已用C语言在工作站上实现,故障模拟结果表明,排序算法明显地改善了延迟测试质量。
关 键 词：边界扫描电路 延迟故障 故障被测度 逻辑电路
分 类 号：TN791.07]
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