期刊文章详细信息
周期多层膜Kirkpatrick-Baez显微镜成像性质分析 ( EI收录)
Imaging characteristic analysis of Kirkpatrick-Baez microscope with periodic multilayer
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]同济大学精密光学工程技术研究所,上海200092 [2]中国工程物理研究院激光聚变研究中心,四川绵阳621900
基 金:国家高技术发展计划项目
年 份:2009
卷 号:21
期 号:11
起止页码:1681-1685
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号:20094912531660)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:分析了Kirkpatrick-Baez(KB)显微镜的成像性质与周期多层膜元件间的关系。基于分辨力和集光效率要求,设计了KB显微镜的光学结构,模拟了KB系统的成像质量,用W/B4C周期多层膜反射镜进行了X射线成像实验,在±100μm视场内得到优于5μm的空间分辨力结果。实验与模拟结果的对比表明,加工精度和球差是影响中心视场分辨力的关键因素,有效视场的大小受多层膜角度带宽的限制。
关 键 词:Kirkpatrick Baez显微镜 X射线成像 周期多层膜 像质
分 类 号:O434.1]
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