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期刊文章详细信息

电子产品测试平台的设计与开发    

  

文献类型:期刊文章

作  者:钱之欣[1] 吴益明[1] 曹磊[1]

机构地区:[1]北京中科泛华测控技术有限公司

出  处:《国外电子测量技术》

年  份:2009

卷  号:28

期  号:9

起止页码:1-3

语  种:中文

收录情况:JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:Electronic Test Platform,电子产品测试平台,简称ETP。ETP在设计上充分遵循了业界的ATLAS和IVI标准,使其具备面向信号,与测试设备无关等特性。ETP测试软件平台的开发旨在为通用电子行业、军工行业、航天行业等多领域的客户提供一个便捷、高效的产品过程及出厂检测的软件平台,帮助工程师们快速的搭建有效测试系统。

关 键 词:测试平台  电子产品 开发  设计  测试软件平台 电子行业 ATLAS ETP  

分 类 号:TN06] TP336]

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同被引文献:

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